GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗為GB/T 17626 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第二部分。
    GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗規(guī)定了電氣和電子設(shè)備遭受直接來自操作者和對鄰近物體的靜電放電時的抗擾度要求和試驗方法，還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗等級的范圍和試驗程序。
    本部分的目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)，以評估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時的性能。此外，它還包括從人體到靠近關(guān)鍵設(shè)備的物體之間可能的靜電放電。
    本部分的規(guī)定包括：
      ——放電電流的典型波形；
      ——試驗等級的范圍；
      ——試驗設(shè)備；
      ——試驗配置；
      ——試驗程序。
    本部分對“實驗室”試驗和“設(shè)備安裝完成后的試驗”提出了技術(shù)要求。
    本部分不對特殊設(shè)備和系統(tǒng)的試驗進行規(guī)定。其主要目的是為所有有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供一個通用的基本準(zhǔn)則。有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（或設(shè)備的使用者和制造者）負(fù)責(zé)選擇試驗和確定試驗條件的嚴(yán)酷等級。
    為了不妨礙協(xié)調(diào)和標(biāo)準(zhǔn)化的任務(wù)，極力建議有關(guān)專業(yè)表轉(zhuǎn)化技術(shù)委員會或用戶和制造商考慮（在其未來的工作或原標(biāo)準(zhǔn)修改中）采用GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗中規(guī)定的相關(guān)抗擾度試驗。
    GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2:2001（第1.2版本）。
    GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗自實施之日起代替GB/T 17626.2-1998《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗干擾度試驗》。

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